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技術支持

菲希爾x-ray設備-您可信賴的知識、能力和經驗

更新時間:2020-06-22   點擊次數:1364次
從1953年至今,菲希爾公司不斷地在涂鍍層測
厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發
展出創新型的測量技術。如今,菲希爾的測量技
術已在世界各地得到應用,滿足客戶對儀器準確
度、精度和可靠性的要求。
作為在生產測量中使用X射線熒光法的,菲
希爾很早就意識到此方法在鍍層厚度測量和材料
分析領域的巨大潛力,因而開始研發和制造工業
級耐用的測量儀器。*一臺菲希爾X射線儀器在
二十世紀八十年代初就已面世。
從那時起,菲希爾不斷改進和研發X射線熒光技
術,使得該項技術在今天居于**地位。其中的
一個例子是透明的狹縫設計,從而使用戶可以與
基本射線同方向查看樣品。另外,打開儀器艙門
自動彈出測量平臺(“彈出功能”)也是*次由
菲希爾實現的。在軟件方面,菲希爾是*個使用
*基本參數法來計算光譜的公司。
菲希爾在生產過程實行嚴格的質量標準控制,在
對零部件進行苛刻的檢驗,確保菲希爾X射線儀
器有著很高的高可靠性。
目前,有超過10000臺X射線儀器投入使
用,而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強
大,可靠和耐用的X射線熒光測量設備的代名詞
的工業制造和科學研究都依賴于這些可靠且
精確的儀器設備。菲希爾一貫以持續的研發、先
進的設備和創新的軟件來迎接挑戰。因為只有經
過精心構思設計和按照高標準制造的產品,終
才能有很好的工作性能。也只有這樣的產品才能
配得上菲希爾的品牌。菲希爾是您可信賴的品
牌。

X射線熒光分析法 (XRFA)

能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層
厚度測量和材料分析的方法,可用來定量和定性
分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統
的厚度測量。無論是在實驗室還是工業生產環境
中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現代化
設備一起發揮作用。

EDXRF作為一種常用測試方法,有著其突出的優
勢。它幾乎可以測量所有工藝相關元素,并且工
作時無損且不接觸樣品。測量時間一般在數秒鐘
內,很少多于一分鐘。通常不需要復制的樣品制
備,即可進行快速測量。利用該方法,可以同時
測量均質材料及鍍層的厚度和化學成分。不僅如
此,EDXRF方法檢測各種類型樣品里的微量有害
物質。
此外,X射線熒光分析是一種清潔的測量方法,
測量過程不使用任何化學制品。由于有著合理精
巧的設計,X射線不會對操作人員和環境構成任
何威脅:菲希爾X射線儀器是安全可靠的。

 

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